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本測(cè)試系統(tǒng)用于鐵電體的鐵電性能測(cè)量，可用于鐵電體的科學(xué)研究及近代物理實(shí)驗(yàn)中的固體物理實(shí)驗(yàn)以及工業(yè)化生產(chǎn)鐵電存儲(chǔ)器的鐵電性能檢測(cè)中，本測(cè)試系統(tǒng)主要由信號(hào)源、高壓電源、電荷放大器、積分器、示波器、計(jì)算機(jī)通訊接口、計(jì)算機(jī)和應(yīng)用軟件等部分組成。 模式測(cè)量電路，與傳統(tǒng)的 Sawyer-Tawer-模式相比，此電路取消了外接電容，可減小寄生元件的影響。此電路的測(cè)試精度取決于積分器積分電容的精度，減少了對(duì)測(cè)試

全自動(dòng)ZKSJD-600型高低溫介電溫譜儀用于分析寬頻、高低溫條件下被測(cè)樣品的介電系數(shù)、阻抗Z、電抗X、導(dǎo)納Y、電導(dǎo)G、電納B、電感L、介電損耗D、品質(zhì)因數(shù)Q等物理量，得到這些變化曲線的頻率譜、溫度譜、介電譜曲線，可廣泛應(yīng)用于鐵電壓電陶瓷材料、半導(dǎo)體器件及功能薄膜材料等研究。測(cè)溫范圍從-190℃-600℃，滿足目前條件下測(cè)試的要求，同時(shí)高低溫阻抗。

GDPT-900A型高低溫壓電材料測(cè)試儀+ZJ-4型D33測(cè)試儀（靜壓電系數(shù)d33測(cè)量?jī)x）是為測(cè)量壓電材料的d33常數(shù)而設(shè)計(jì)的專用儀器，可以測(cè)量任意形狀的壓電陶瓷材料，也可以薄膜PVDF材料，在之前的基礎(chǔ)上添加了薄膜拉伸裝置，可以更加直觀的了解薄膜在拉伸條件下的D33數(shù)值。對(duì)試樣大小及形狀無特殊要求，圓片、圓環(huán)、圓管、方塊、長(zhǎng)條、柱形及半球殼等均可測(cè)量，增加了對(duì)被測(cè)元件的放電保護(hù)

模式測(cè)量電路，與傳統(tǒng)的 Sawyer-Tawer-模式相比，此電路取消了外接電容，可減小寄生元件的影響。此電路的測(cè)試精度取決于積分器積分電容的精度，減少了對(duì)測(cè)試的影響環(huán)節(jié),比較容易定標(biāo)和校準(zhǔn)，且能實(shí)現(xiàn)較高的測(cè)量準(zhǔn)確度它不僅能畫出鐵電薄膜的電滯回線還可以定量得到鐵電薄膜材料的和極化Ps、剩余極化Pr、矯頑場(chǎng)Ec、漏電流k等參數(shù)，以及對(duì)鐵電薄膜材料的鐵電勞性能、鐵電保持性能的測(cè)試，能夠較全面確地測(cè)量鐵

TDZT-04C 鐵電材料測(cè)試儀 關(guān)鍵詞：電滯回線，疲勞，脈沖，漏電流， TDZT-04C鐵電測(cè)試儀通過全局總線進(jìn)行控制，可以有效提高儀器控制速度及安全水平。設(shè)備采用孔浮地技術(shù)，可有效地降低電荷泄露造成的驅(qū)動(dòng)能力弱及電壓泄露隱患。高壓部分與低壓部分通過浮地結(jié)構(gòu)隔離，并在低壓部分配置有高壓放電管及附屬設(shè)施，從而避免因高壓泄露造成的損害。 本次研發(fā)采用DDS數(shù)字脈沖輸出技術(shù)，可以在技術(shù)

ZJ-4型寬量程型D33系數(shù)綜合測(cè)試儀,壓電測(cè)試儀（靜壓電系數(shù)d33測(cè)量?jī)x）是為測(cè)量壓電材料的d33常數(shù)而設(shè)計(jì)的專用儀器，可以測(cè)量任意形狀的壓電陶瓷材料，也可以薄膜PVDF材料，在之前的基礎(chǔ)上添加了薄膜拉伸裝置，可以更加直觀的了解薄膜在拉伸條件下的D33數(shù)值。對(duì)試樣大小及形狀無特殊要求，圓片、圓環(huán)、圓管、方塊、長(zhǎng)條、柱形及半球殼等均可測(cè)量，增加了對(duì)被測(cè)元件的放電保護(hù)、放電提示以及被測(cè)波形輸出等功能