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單晶鈣鈦礦氮化物鐵電薄膜 FE-5000W綜合鐵電測試系統(tǒng)

更新時間:2026-01-29  |  點擊率:88

近年來,氮化物材料因其優(yōu)異的化學(xué)穩(wěn)定性、離子-共價混合鍵合特性、多自由度耦合行為以及可調(diào)控的能帶結(jié)構(gòu),在基礎(chǔ)研究與器件應(yīng)用中展現(xiàn)出巨大潛力。然而,高質(zhì)量單晶薄膜制備仍是制約其深入研究和實用化的關(guān)鍵技術(shù)瓶頸。隨著射頻氮離子源輔助的外延技術(shù)不斷進步,研究人員已在多種襯底或緩沖層上成功生長出厚度可控、質(zhì)量優(yōu)異、界面清晰的氮化物單晶薄膜與異質(zhì)結(jié)構(gòu),推動了其在磁性調(diào)控、金屬-絕緣體轉(zhuǎn)變、超導(dǎo)近鄰效應(yīng)等方向的系統(tǒng)研究。近年來,理論工作預(yù)測一系列新型鈣鈦礦氮化物(如LaWN?)具有優(yōu)異的鐵電或壓電特性,實驗中也初步觀察到其極性結(jié)構(gòu)與壓電響應(yīng)。然而,已有報道多為微米厚度的非晶或多晶樣品,難以滿足鐵電物理機制研究及微納器件集成的需求。相比之下,低漏電、快響應(yīng)的高質(zhì)量單晶薄膜更優(yōu)勢,但其外延生長在化學(xué)計量控制、缺陷抑制及與多類襯底的兼容性等方面仍面臨諸多挑戰(zhàn)。

  單晶鈣鈦礦氮化物鐵電薄膜 FE-5000W綜合鐵電測試系統(tǒng)


圖 實現(xiàn)具有良好結(jié)晶質(zhì)量和外延特性的單晶鈣鈦礦氮化物鐵電薄膜近日,物理研究所/北京凝聚態(tài)物理國家研究中心聯(lián)合南方科技大學(xué)和北京理工大學(xué),通過氨氣氮化退火方法,將無定形前驅(qū)體晶化為高質(zhì)量的鈣鈦礦氮化物CeTaN?單晶薄膜,實驗上實現(xiàn)了此前僅理論預(yù)測的新型材料。CeTaN?中未充滿4f電子殼層的Ce3?離子可能引入局域偶極與多極矩效應(yīng),而Ta–N強共價鍵有助于打破中心對稱性,提高鐵電極化的居里溫度。研究團隊結(jié)合非線性光學(xué)、壓電力顯微鏡、透射電子顯微鏡與電學(xué)測量等多種技術(shù),全面驗證了CeTaN?薄膜的極性結(jié)構(gòu)與穩(wěn)定鐵電性,其室溫剩余極化值可與主流鐵電材料(如Hf???Zr?O?和BaTiO?)媲美。性原理計算與實驗數(shù)據(jù)一致表明,CeTaN?具有相對較窄的帶隙,具備作為鐵電半導(dǎo)體應(yīng)用于鐵電場效應(yīng)晶體管和光電探測器等器件的潛力。

單晶鈣鈦礦氮化物鐵電薄膜 FE-5000W綜合鐵電測試系統(tǒng)

FE-5000綜合鐵電測試系統(tǒng)(薄膜+塊體+變溫)

關(guān)鍵詞:電滯回線 ,鐵電測試儀,電壓,頻率 ,電致應(yīng)變,蝴蝶曲線

FE-5000型鐵電測試儀是一款高量程款的鐵電性能材料測試裝置,這款設(shè)備可以適用于鐵電薄膜、鐵電體材料(既可塊體材料)的電性能測量,可測量鐵電薄膜電滯回線、可測出具有非對稱電滯回線鐵電薄膜值??梢赃M行電致應(yīng)變測試,可以蝴蝶曲線功能,設(shè)備還可以擴展高溫電阻,高溫介電,電容-電壓曲線,TSC/TSDC等功能。本儀器是從事壓電材料及壓電元件生產(chǎn)、應(yīng)用與研究部門的重要設(shè)備之一,已經(jīng)在各大高校和科研院所廣泛使用。

二、主要技術(shù)指標(biāo):

1、輸出信號電壓::±5KV,±10KV可擴展電致應(yīng)蝴蝶曲線功能

2、溫度;室溫-200℃,控溫精度:±1

3、控制施加頻率0.011KHz(陶瓷、單晶,薄膜)PC端軟件控制自定義設(shè)置;

4、控制輸出電流0到±50mA連續(xù)可調(diào),PC端軟件控制自定義設(shè)置。

a) 5、動態(tài)電滯回線測試頻率范圍 0.01Hz-5kHz(電滯回線測量頻率:250kHz / 010VAC50kHz /10200VAC;)

7、最小脈寬保持時間為20us;最小上升沿時間為10us;

8、疲勞測試頻率500kHz(振幅10 Vpp,負(fù)載電容1 nF);使用高壓放大器后疲勞頻率5kHz;

9、測試速度:測量時間《5/樣品•溫度點  

10、樣品規(guī)格:塊體材料尺寸:直徑2-100mm,厚度0.1-10mm

11、主要功能:電滯回線,I-V特性,脈沖PUND,疲勞Fatigue,電擊穿強度BDM,漏電流LM

10. 電荷解析度不小于10 mC;漏電流測量范圍:1pA~ 20 mA,分辨率不低于0.1pA;

11.配置薄膜測試變溫探針臺一套,電子顯微鏡一套,高壓放大器±100V 一臺,溫度范圍:室溫~400度。樣品厚度:30nm~1mm,測試頻率0.01Hz~100kHz@0~±100V

12、最小脈寬保持時間為20us;最小上升沿時間為10us;

13、控制方式:計算機實時控制、實時顯示、實時數(shù)據(jù)計算、分析與存儲

14、軟件采集:自動采集軟件,分析可以兼容其他相關(guān)主流軟件。

14、測試精度:±0.05%

15、內(nèi)置電壓:±200V

16、應(yīng)變模塊:配置進口干涉儀

主要技術(shù)參數(shù):量程:0.3mm-30mm





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